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HORIBA堀場納米粒度及Zeta電位分析儀nanoPartica SZ-100V2

日期：2025-08-25 13:36

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摘要：HORIBA堀場納米粒度及Zeta電位分析儀nanoPartica SZ-100V2

nanoPartica SZ-100V2
納米粒度及Zeta電位分析儀
先進的分析儀器助您解開納米世界的奧秘。只需單臺設備就能表征納米顆粒的三個參數(shù)：粒徑、Zeta 電位和分子量。
納米技術的研發(fā)是一個持續(xù)不斷的過程，這是為了能夠從原子和分子水平上控制物質(zhì)的尺寸，從而獲得性能更好的材料與產(chǎn)品。組件的小型化——即納米級控制可以有效實現(xiàn)更快的測量速度、更好的設備性能以及更低的設備運行能耗。納米技術在日常生活中的諸如食品、化妝品和生命科學等很多領域發(fā)揮著關鍵作用。
簡單快捷的納米顆粒多參數(shù)分析！
一臺設備、三種功能，可對每個測量參數(shù)進行高靈敏度、高精度的分析。

HORIBA堀場納米粒度及Zeta電位分析儀nanoPartica SZ-100V2

粒徑測量范圍0.3 nm ~ 10 μm

SZ-100V2 系列采用動態(tài)光散射 (DLS) 原理測量顆粒粒徑大小及分布，實現(xiàn)了超寬濃度范圍的樣品測量，該系列可準確測量低至ppm 級低濃度、高至百分之幾十的高濃度樣品。可使用市售的樣品池，也可實現(xiàn)對小體積樣品的測量。

Zeta 電位測量范圍– 500 ~ + 500 mV

使用 HORIBA Zeta電位樣品池測量Zeta 電位值只需樣品100 μL，通過Zeta電位可預測和控制樣品的分散穩(wěn)定性。Zeta 電位值越高，則意味著分散體系越穩(wěn)定，這對于產(chǎn)品配方的研究工作具有重大的意義。

分子量測量范圍1 × 10 3 ~ 2 × 10 7 Da

通過測量不同濃度下的靜態(tài)光散射強度并通過德拜記點法計算樣品的**分子量 (Mw) 和**維里系數(shù) (A2 )。

SZ-100V2 系列具有良好的復雜信息處理能力和學習能力，可快速確定納米顆粒的特性！

SZ-100V2 系列具有雙光路設計，既可以測量高濃度的樣品，如漿體和染料；同時也可以用于測量低濃度樣品，如蛋白質(zhì)、聚合物等。
使用單臺設備即可表征納米顆粒的三大參數(shù)——粒徑、Zeta 電位和分子量
HORIBA研發(fā)的Zeta 電位樣品池可防止樣品對其造成污染。樣品池容量（*低容量100 μL）小適用于稀釋樣品的分析。
HORIBA研發(fā)的Zeta 電位樣品池的電極由碳材料制成，該材料不會受到鹽溶液等高鹽樣品的腐蝕。

HORIBA堀場納米粒度及Zeta電位分析儀nanoPartica SZ-100V2 測量規(guī)格

型號	SZ-100-S2（**粒徑和分子量測量）
測量原理	粒度測量：動態(tài)光散射分子量測量：德拜記點法（靜態(tài)散射光強度）
測量范圍	粒徑：0.3 nm 至 10 μm 分子量：1000 至 2 × 10 7 Da（德拜記點） 540 至 2× 10 7 Da（MHS 方程）*1
*大樣品濃度	40%*2
粒度測量精度	以100 nm的聚苯乙烯乳膠球體為例，其測量精度為 ±2% （不包括標準顆粒本身的變化）
測量角度	90°和173°（自動或手動選擇）
樣品池	比色皿
測量時間	常規(guī)條件下約 2分鐘（從測量開始到顯示粒度測量結(jié)果）
所需樣品量	12 μL *3至 1000 μL（因比色皿材料而異）
分散劑	水、乙醇、有機溶劑

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*1：Mark-Howink-Sakurada 方程，取決于樣本。
*2：取決于樣品。
*3：F 微型電池。

HORIBA堀場納米粒度及Zeta電位分析儀nanoPartica SZ-100V2 測量規(guī)格（粒度和分子量測量規(guī)格與 SZ-100-S2 相同。）

型號	SZ-100-Z2（帶Zeta電位測量單元）
測量原理	Zeta 電位測量：激光多普勒電泳
測量范圍	-500 至 +500 mV
適合測量的尺寸范圍	小 2.0 nm，大 100 μm *4
測量電導率范圍	0 至 20 S/m*5
*大樣品濃度	40% *6
樣品池	石墨電極電位樣品池
測量時間	常規(guī)條件下約 2分鐘
所需樣品量	100 μL
分散劑	水

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*4：取決于樣品。
*5：推薦的樣品電導率范圍：0 到 2 S/m。
*6：取決于樣品。

HORIBA堀場納米粒度及Zeta電位分析儀nanoPartica SZ-100V2儀器規(guī)格（SZ-100-S2 和 SZ-100-Z2）

測量單元光學系統(tǒng)	光源：二極管泵浦倍頻激光器（532 nm，S2 / Z2 10 mW，HS2 / HZ2 100 mW）檢測器：光電倍增管（PMT）
激光分類	**
工作溫度和濕度	15 - 35 °C，RH 85% 或更低（無冷凝）
支架溫度控制溫度設置	0 - 90 °C（石墨電極電位樣品池控溫*高可達 70 °C）
吹掃	可以連接干燥氣體吹掃端口管。
電源供應	交流 100 - 240 V，50/60 Hz，150 VA
外觀尺寸	528 (W) x 385 (D) x 273 (H) mm（不包括突出部分）
重量	25 kg
電腦	帶有一個可用 USB 端口的 Windows 計算機
界面	USB 2.0（測量單元和 PC 之間）
操作系統(tǒng)	Windows® 10 32/64 位

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尺寸（毫米）

HORIBA堀場納米粒度及Zeta電位分析儀nanoPartica SZ-100V2附件

粒徑測量樣品池

	單元名稱	*小音量	溶劑
A	一次性樣品池	1.2 mL	水性
B	半微量池	500 μL	水性，非水性
C	玻璃池	1.2 mL	水性，非水性
D	一次性半微量池	600 μL	水性
E	樣品池（帶蓋）	1.2 mL	水性，非水性
F	微量池（僅側(cè)面檢測）	12 μL	水性，非水性
G	亞微量池	200 μL	水性，非水性
H	流動池	100 μL	水性，非水性

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HORIBA堀場納米粒度及Zeta電位分析儀nanoPartica SZ-100V2

Zeta電位樣品池

用于水相測量的石墨電極電位樣品池，每盒20個，每個樣品池體積為 100 μL。

有機溶劑電位樣品池，體積為100 μL

HORIBA堀場納米粒度及Zeta電位分析儀nanoPartica SZ-100V2

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