熱門搜索：
代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、相位差膜設(shè)備等）、USHIO牛尾點(diǎn)光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機(jī)、NEWKON新光、TOKISANGYO東機(jī)產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計(jì)裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機(jī)、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機(jī)、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.
產(chǎn)品中心
-
CEDAR思達(dá)
-
Stucchi思多奇
-
NITTO KOHKI日...
-
Sankei
-
KYOWA協(xié)和工業(yè)
- DIT東日技研
- AITEC艾泰克
-
SIGMAKOKI西格瑪...
- REVOX萊寶克斯
- CCS 希希愛視
- SIMCO思美高
- POLARI0N普拉瑞
- HOKUYO北陽電機(jī)
- SSD西西蒂
- EMIC 愛美克
- TOFCO東富科
-
打印機(jī)
- HORIBA崛場
- OTSUKA大冢電子
- MITAKA三鷹
- EYE巖崎
- KOSAKA小坂
-
SAGADEN嵯峨電機(jī)
- TOKYO KEISO東...
- takikawa 日本瀧...
- Yamato雅馬拓
- sanko三高
- SEN特殊光源
-
SENSEZ 靜雄傳感器
- marktec碼科泰克
- KYOWA共和
- FUJICON富士
- SANKO山高
-
Sugiyama杉山電機(jī)
-
Osakavacuum大...
-
YAMARI 山里三洋
- ACE大流量計(jì)
- KEM京都電子
- imao今尾
- AND艾安得
- EYELA東京理化
- ANRITSU安立計(jì)器
- JIKCO 吉高
- NiKon 尼康
- DNK科研
- Nordson諾信
- PISCO匹斯克
- NS精密科學(xué)
- NDK 日本電色
-
山里YAMARI
- SND日新
-
Otsuka大塚電子
- kotohira琴平工業(yè)
- YAMABISHI山菱
- OMRON歐姆龍
- SAKURAI櫻井
- UNILAM優(yōu)尼光
-
氙氣閃光燈
-
UV反轉(zhuǎn)曝光系統(tǒng)
-
UV的水處理
-
檢測系統(tǒng)
-
光照射裝置
-
點(diǎn)光源曝光
-
變壓型電源供應(yīng)器
-
超高壓短弧汞燈
-
UV光洗凈
-
UV曝光裝置
-
uv固化裝置
-
紫外可見光光度計(jì)
熱門品牌展示
產(chǎn)品展示
-
OPTM 是一種通過使用顯微光譜法測量微小區(qū)域的優(yōu)良反射率，實(shí)現(xiàn)高精度薄膜厚度和光學(xué)常數(shù)分析的設(shè)備。 各種薄膜、晶片、光學(xué)材料和多層薄膜等涂膜的厚度可以非破壞性和非接觸方式測量。測量時(shí)間為1秒/點(diǎn)的高速測量是可能的。它還配備了軟件，即使是初學(xué)者也可以輕松分析光學(xué)常數(shù)。
-
使用固態(tài)激光器和高靈敏度檢測器（冷卻光電子雙管），可以測量0.5納米至5000納米顆粒的粒度和粒度分布（粒度和粒度分布）。
-
可以使用動態(tài)光散射法測量粒度/粒度分布（粒度/粒度分布）和使用靜態(tài)光散射法測量優(yōu)良分子量/慣性半徑/秒維里系數(shù)。
-
通過注射器方法可以很容易地進(jìn)行樣品注入。 數(shù)據(jù)處理很容易，因?yàn)榭刂坪蛿?shù)據(jù)采集是從個(gè)人計(jì)算機(jī)執(zhí)行的。 可以進(jìn)行低噪音、高穩(wěn)定性和良好再現(xiàn)性的測量。 通過靜態(tài)光散射法測定重均分子量的 Dn / dc 測量 表面活性劑等膠束臨界濃度（cmc）的測定 聚合物吸附量的測定 聚合物共聚物的成分分析 脂質(zhì)體相變溫度的測定等
-
nanoSAQLA的特點(diǎn) 1臺輕松連續(xù)測定5個(gè)樣品 實(shí)現(xiàn)了沒有自動進(jìn)樣器難以實(shí)現(xiàn)的多個(gè)樣品的連續(xù)測定 也可以通過改變每個(gè)樣品的條件進(jìn)行測量。 對應(yīng)從精益到富的系統(tǒng) 標(biāo)準(zhǔn)測量時(shí)間為1分鐘的高速測量 自動調(diào)整*佳測量位置，從濃縮樣品到稀釋樣品，實(shí)現(xiàn)約1分鐘的高速測量。 配備簡易測量功能（一鍵即可開始測量） 軟件簡單易懂，無需任何復(fù)雜操作 內(nèi)置非浸入式電池塊，不分液 無污染 因?yàn)槊總€(gè)電池都是獨(dú)立的，所以無需擔(dān)心污染。 配備溫度梯度功能 溫度可輕松設(shè)置 ■ AS50的特點(diǎn) 連續(xù)測量多達(dá) 50 個(gè)樣品 即使在測量過程中也可以添加樣品 簡單方便的樣品組（一次*多可更換 50 個(gè)樣品） 兼容有機(jī)溶劑（玻璃一次性電池） 樣品容量至少 0.4 ml 測量范圍（理論值） 粒徑0.6nm～10μm 濃度范圍 0.00001-40% 溫度范圍0-90°C *
-
一臺5檢體輕松連續(xù)量測 一鍵測定簡易功能 對應(yīng)低濃度到高濃度 標(biāo)準(zhǔn)測定時(shí)間一分高速測定 非浸入式、非分注式連續(xù)量測 搭載溫度梯度(0 ~ 90℃) 對應(yīng)多國語言操作介面(繁體中文、日文、英文、簡體中文、韓文
-
*新的高靈敏度APD實(shí)現(xiàn)了更高的靈敏度和更短的測量時(shí)間 通過自動溫度梯度測量可以進(jìn)行退化/相變溫度分析 可在 0 至 90°C 的寬溫度范圍內(nèi)進(jìn)行測量 增加了廣泛的分子量測量和分析功能 支持懸浮高濃度樣品的粒度測量 非常適合在界面化學(xué)、無機(jī)物、半導(dǎo)體、高分子、生物、制藥、醫(yī)藥等領(lǐng)域中，不僅涉及微粒子，而且還涉及薄膜、平板等表面科學(xué)的基礎(chǔ)研究和應(yīng)用研究。
-
*新的高靈敏度APD實(shí)現(xiàn)了更高的靈敏度和更短的測量時(shí)間 通過自動溫度梯度測量可以進(jìn)行退化/相變溫度分析 可在 0 至 90°C 的寬溫度范圍內(nèi)進(jìn)行測量 支持懸浮高濃度樣品的 zeta 電位測量 測量電池中的電滲流，并通過繪圖分析提供高度準(zhǔn)確的 zeta 電位測量結(jié)果。 支持高鹽濃度溶液的zeta電位測量 支持小面積樣品的平板zeta電位測量 非常適合在界面化學(xué)、無機(jī)物、半導(dǎo)體、高分子、生物、制藥、醫(yī)藥等領(lǐng)域中，不僅涉及微粒子，而且還涉及薄膜、平板等表面科學(xué)的基礎(chǔ)研究和應(yīng)用研究。
-
特殊長度 *新的高靈敏度APD實(shí)現(xiàn)了更高的靈敏度和更短的測量時(shí)間 通過自動溫度梯度測量可以進(jìn)行退化/相變溫度分析 可在 0 至 90°C 的寬溫度范圍內(nèi)進(jìn)行測量 增加了廣泛的分子量測量和分析功能 支持懸浮高濃度樣品的粒徑和 zeta 電位測量 測量電池中的電滲流，并通過繪圖分析提供高度準(zhǔn)確的 zeta 電位測量結(jié)果。 支持高鹽濃度溶液的zeta電位測量 支持小面積樣品的平板zeta電位測量 采用 非常適合在界面化學(xué)、無機(jī)物、半導(dǎo)體、高分子、生物、制藥、醫(yī)藥等領(lǐng)域中，不僅涉及微粒子，而且還涉及薄膜、平板等表面科學(xué)的基礎(chǔ)研究和應(yīng)用研究。 新型功能材料領(lǐng)域 燃料電池相關(guān)（碳納米管、富勒烯、功能薄膜、催化劑、納米金屬）生物納米 相關(guān)（納米膠囊、樹枝狀大分子、DDS、生物納米顆粒）、納米氣泡等。 陶瓷/著色材料 工業(yè)領(lǐng)域 陶瓷（二氧化硅/氧化鋁/氧化鈦等） 表面改
-
特殊長度 可以在從稀溶液到濃溶液 (~ 40%) * 1的寬濃度范圍內(nèi)測量粒度和 zeta 電位。 多角度測量能夠以高分辨率測量粒度分布 高鹽濃度下可測量平板樣品的Zeta電位 可以使用靜態(tài)光散射法測量粒子濃度 可通過動態(tài)光散射法進(jìn)行微流變測量 可以通過測量凝膠樣品的多個(gè)點(diǎn)來評估凝膠的網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)和不均勻性。 使用標(biāo)準(zhǔn)流通池可以連續(xù)測量粒徑和 zeta 電位。 可在 0 至 90°C 的寬溫度范圍內(nèi)進(jìn)行測量。 通過溫度梯度功能可以對蛋白質(zhì)等進(jìn)行變性/相變溫度分析 測量電池中的電滲流，并通過繪圖分析提供高度準(zhǔn)確的 zeta 電位測量結(jié)果。 可安裝熒光截止濾光片（可選） 采用 它是表面化學(xué)、無機(jī)物質(zhì)、生命科學(xué)、半導(dǎo)體、聚合物、生物學(xué)、藥學(xué)和醫(yī)學(xué)領(lǐng)域中涉及表面科學(xué)的基礎(chǔ)研究和應(yīng)用研究的理想選擇。 新型功能材料領(lǐng)域 燃料電池相關(guān)（碳納米管、富勒烯、纖維素納米
-
在高精度薄膜分析的光譜橢偏儀之上，增加安裝了測量角度可自動變化裝置,可對應(yīng)所有種類的薄膜。在傳統(tǒng)旋轉(zhuǎn)分析儀法之上，通過安裝相位差板自動分離裝置，提高了測量精度。
-
它是一種單獨(dú)評估光源或光學(xué)材料光分布的設(shè)備。 實(shí)現(xiàn)10分鐘的測量時(shí)間，顛覆分布測量常識！ 僅一次測量可捕獲每個(gè)空間照度！ 支持其他公司的光學(xué)設(shè)計(jì)軟件處理的數(shù)據(jù)格式！ 設(shè)備尺寸緊湊， 1.5平方米角落即可收納！ 也可輸出通用IES格式的配光數(shù)據(jù)！ 從光源的光分布測量到透鏡和薄膜等材料的光學(xué)特性，擁有廣泛的測量評估范圍。
